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中析检测

阻抗谱(EIS)碰撞后SEI膜破损

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咨询量:  
更新时间:2025-06-13  /
咨询工程师

信息概要

阻抗谱(EIS)碰撞后SEI膜破损检测是一项针对电池材料表面固态电解质界面膜(SEI膜)完整性的分析服务。SEI膜的破损会直接影响电池的性能和安全性,因此通过EIS技术检测其破损情况对于评估电池寿命、安全性和可靠性至关重要。本检测服务可广泛应用于各类电池材料的研发、生产和质量控制环节,为客户提供精准的数据支持和解决方案。

检测项目

  • SEI膜阻抗值
  • 电荷转移电阻
  • 溶液电阻
  • 膜电容
  • 低频阻抗
  • 高频阻抗
  • 相位角
  • 弛豫时间
  • Nyquist图分析
  • Bode图分析
  • 膜破损程度
  • 膜修复能力
  • 界面稳定性
  • 电化学活性面积
  • 极化电阻
  • 扩散阻抗
  • 膜厚度变化
  • 离子电导率
  • 电子电导率
  • 膜均匀性

检测范围

  • 锂离子电池
  • 钠离子电池
  • 固态电池
  • 磷酸铁锂电池
  • 三元锂电池
  • 钴酸锂电池
  • 锰酸锂电池
  • 钛酸锂电池
  • 硅基负极电池
  • 石墨负极电池
  • 锂硫电池
  • 锂空气电池
  • 水系电池
  • 聚合物电池
  • 柔性电池
  • 微型电池
  • 高能量密度电池
  • 快充电池
  • 高温电池
  • 低温电池

检测方法

  • 电化学阻抗谱(EIS):通过测量不同频率下的阻抗响应分析SEI膜特性
  • 循环伏安法(CV):评估SEI膜的电化学稳定性
  • 恒电流充放电测试:检测SEI膜在充放电过程中的变化
  • 扫描电子显微镜(SEM):观察SEI膜表面形貌
  • 透射电子显微镜(TEM):分析SEI膜微观结构
  • X射线光电子能谱(XPS):测定SEI膜化学成分
  • 原子力显微镜(AFM):测量SEI膜表面粗糙度
  • 傅里叶变换红外光谱(FTIR):分析SEI膜官能团
  • 拉曼光谱:检测SEI膜分子结构
  • 热重分析(TGA):评估SEI膜热稳定性
  • 差示扫描量热法(DSC):分析SEI膜相变行为
  • 电化学石英晶体微天平(EQCM):实时监测SEI膜质量变化
  • 二次离子质谱(SIMS):深度剖析SEI膜成分分布
  • X射线衍射(XRD):检测SEI膜晶体结构
  • 电化学噪声分析:评估SEI膜局部腐蚀行为

检测仪器

  • 电化学项目合作单位
  • 阻抗分析仪
  • 扫描电子显微镜
  • 透射电子显微镜
  • X射线光电子能谱仪
  • 原子力显微镜
  • 傅里叶变换红外光谱仪
  • 拉曼光谱仪
  • 热重分析仪
  • 差示扫描量热仪
  • 电化学石英晶体微天平
  • 二次离子质谱仪
  • X射线衍射仪
  • 电池测试系统
  • 恒温恒湿箱

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