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      中析检测

      表面粗糙度测试

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      咨询量:  
      更新时间:2025-05-09  /
      咨询工程师

      检测项目

      Ra(轮廓算术平均偏差):0.01-25μm

      Rz(最大高度):0.1-160μm

      Rq(均方根粗糙度):0.02-30μm

      Rt(总高度):0.5-200μm

      Rp(最大峰高):0.05-100μm

      Rv(最大谷深):0.05-100μm

      Rsk(偏斜度):-3.0~+3.0

      Rku(陡度):1.0-10.0

      Rsm(轮廓单元平均宽度):0.002-25mm

      Rmr(材料比率曲线):10%-90%

      Rc(轮廓单元高度):0.05-120μm

      Rda(算术平均斜率):0.1°-85°

      Rdq(均方根斜率):0.2°-89°

      Rλq(波纹度均方根):0.05-50μm

      Rmax(单次测量最大高度差):0.1-200μm

      检测范围

      不锈钢精密加工件(Ra 0.1-3.2μm)

      铝合金压铸件(Rz 5-50μm)

      钛合金航空结构件(Ra 0.4-6.3μm)

      硬质合金刀具刃口(Rz 0.05-1.6μm)

      高分子材料注塑件(Ra 0.8-12.5μm)

      光学玻璃镜片(Ra 0.01-0.1μm)

      陶瓷基复合材料(Rz 2-20μm)

      液压缸筒内壁(Ra 0.2-1.6μm)

      轴承滚道表面(Ra 0.025-0.4μm)

      齿轮啮合面(Ra 0.4-3.2μm)

      半导体晶圆衬底(Ra<1nm)

      金属增材制造件(Rz 10-100μm)

      橡胶密封面(Ra 3.2-25μm)

      电镀涂层表面(Rz 0.8-12.5μm)

      PCB铜箔基板(Ra 0.3-5μm)

      检测方法

      接触式轮廓法:ASTM D7127/GB/T 3505

      白光干涉法:ISO 25178/GB/T 33523

      激光共聚焦法:ISO 25178-6/GB/T 39489

      原子力显微镜法:ISO 11039/ASTM E2859

      相位偏移干涉法:ASTM F1811/GB/T 29558

      数字全息显微术:ISO 25178-7/GB/T 39490

      扫描电子显微镜法:ASTM E766/GB/T 23414

      检测设备

      Mitutoyo SJ-410表面粗糙度仪:接触式测量,分辨率0.01μm,符合ISO 4287标准

      Bruker ContourGT-K光学轮廓仪:白光干涉技术,垂直分辨率0.1nm

      Taylor Hobson Form Talysurf i-Series:接触/非接触复合式测量系统,Ra测量范围0.01-100μm

      Olympus LEXT OLS5000激光显微镜:120nm横向分辨率,符合JIS B0671标准

      ZeGage Plus三维光学轮廓仪:相位偏移干涉技术,重复性<0.1nm RMS

      Keyence VK-X3000激光共聚焦显微镜:405nm激光波长,Z轴分辨率1nm

      AEP Technology XC300非接触式粗糙度仪:双CCD成像系统,测量速度20mm/s

      中析研究所检测,科学公正准确!

      报告:可出具第三方检测报告(电子版/纸质版)。

      检测周期:7~15工作日,可加急。

      资质:旗下实验室可出具CMA/资质报告。

      标准测试:严格按国标/行标/企标/国际标准检测。

      非标测试:支持定制化试验方案。

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