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    中析检测

    电磁衰减测量测试实验

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    咨询量:  
    更新时间:2025-05-16  /
    咨询工程师

    信息概要

    电磁衰减测量测试实验是评估材料或设备在电磁场中屏蔽效能的关键技术手段。该检测服务旨在通过科学方法验证产品是否符合电磁兼容性(EMC)及电磁屏蔽性能的相关标准,确保其在复杂电磁环境下的安全性和可靠性。检测的重要性在于防止电磁干扰(EMI)对电子设备性能的影响,同时满足行业法规要求,保障产品质量与用户安全。

    检测项目

    • 电磁屏蔽效能
    • 频率响应特性
    • 衰减系数
    • 近场辐射强度
    • 远场辐射强度
    • 表面阻抗
    • 介电常数
    • 磁导率
    • 反射损耗
    • 吸收损耗
    • 传输损耗
    • 谐振频率点
    • 极化特性
    • 温度稳定性
    • 湿度影响系数
    • 多频段衰减性能
    • 方向性衰减差异
    • 材料均匀性
    • 耐久性测试
    • 电磁脉冲抗扰度

    检测范围

    • 电磁屏蔽涂料
    • 金属屏蔽罩
    • 导电橡胶制品
    • 屏蔽电缆
    • 电磁屏蔽玻璃
    • 吸波材料
    • 电子设备外壳
    • 柔性屏蔽织物
    • 导电胶带
    • 滤波器组件
    • 天线屏蔽器
    • 电磁密封衬垫
    • 屏蔽机柜
    • 导电泡沫
    • 射频识别屏蔽材料
    • 电磁屏蔽薄膜
    • 微波暗室材料
    • 抗电磁干扰电路板
    • 电磁屏蔽复合材料
    • 无线充电屏蔽模块

    检测方法

    • 屏蔽效能测试法(依据标准ASTM D4935)
    • 远场测量法(用于开放区域测试)
    • 近场探头扫描法(检测局部电磁泄漏)
    • 同轴传输线法(高频段信号衰减评估)
    • 法兰同轴法(材料平面波特性分析)
    • 时域反射法(TDR)
    • 矢量网络分析仪法(全频段参数测量)
    • 混响室法(多路径散射环境测试)
    • GTEM小室法(快速辐射性能评估)
    • 微波暗室辐射测试
    • 扫频阻抗分析法
    • 脉冲磁场注入法
    • 谐振腔法(材料介电特性检测)
    • 四探针法(表面电阻率测量)
    • 热红外成像法(温升效应评估)

    检测仪器

    • 矢量网络分析仪
    • 频谱分析仪
    • 电磁屏蔽效能测试系统
    • GTEM小室
    • 微波暗室
    • 近场探头套装
    • 时域反射计
    • 阻抗分析仪
    • 信号发生器
    • 功率放大器
    • 电场强度测试仪
    • 磁场强度测试仪
    • 射频屏蔽箱
    • 四探针测试仪
    • 示波器

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