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中析检测

同步辐射CT热失控三维重构

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咨询量:  
更新时间:2025-06-10  /
咨询工程师

信息概要

同步辐射CT热失控三维重构是一种先进的检测技术,通过高精度同步辐射X射线成像,对材料或产品在热失控状态下的内部结构变化进行三维可视化分析。该技术广泛应用于电池、电子元件、航空航天材料等领域,为产品安全性和可靠性评估提供关键数据支持。

检测的重要性在于,热失控是许多工业产品失效的主要原因之一,可能导致严重的安全事故。通过同步辐射CT热失控三维重构,可以精准定位缺陷、分析失效机理,并为产品改进提供科学依据,从而降低风险、提升产品质量。

检测项目

  • 热失控起始温度
  • 热扩散速率
  • 内部结构变形量
  • 气孔分布密度
  • 裂纹扩展路径
  • 材料相变区域
  • 热应力分布
  • 局部温度梯度
  • 体积膨胀率
  • 界面分层情况
  • 元素迁移轨迹
  • 热失控持续时间
  • 内部压力变化
  • 材料熔化区域
  • 热失控传播速度
  • 微观结构演变
  • 热化学反应区域
  • 材料密度变化
  • 缺陷聚集位置
  • 热失控临界条件

检测范围

  • 锂离子电池
  • 固态电池
  • 燃料电池
  • 超级电容器
  • 电子封装材料
  • 半导体器件
  • 高温合金
  • 复合材料
  • 陶瓷材料
  • 聚合物材料
  • 航空航天结构件
  • 汽车动力系统
  • 储能系统
  • 光伏材料
  • 热电材料
  • 纳米材料
  • 涂层材料
  • 焊接接头
  • 金属泡沫
  • 功能梯度材料

检测方法

  • 同步辐射X射线断层扫描:利用高亮度X射线对样品进行三维成像
  • 热重分析:测量样品在升温过程中的质量变化
  • 差示扫描量热法:分析材料的热流变化和相变行为
  • 高速红外热成像:实时监测表面温度分布
  • 数字图像相关法:测量材料变形和应变场
  • 声发射检测:捕捉材料内部裂纹扩展信号
  • 显微拉曼光谱:分析局部化学组成变化
  • X射线衍射:确定晶体结构演变
  • 电子显微镜观察:研究微观结构特征
  • 气体色谱分析:检测热失控释放的气体成分
  • 质谱分析:识别热分解产物
  • 电化学阻抗谱:评估材料界面特性
  • 超声波检测:探测内部缺陷
  • 光学高温计:测量局部高温区域
  • 压力传感器监测:记录内部压力变化

检测仪器

  • 同步辐射光源
  • X射线探测器
  • 热重分析仪
  • 差示扫描量热仪
  • 高速红外相机
  • 数字图像相关系统
  • 声发射传感器
  • 拉曼光谱仪
  • X射线衍射仪
  • 扫描电子显微镜
  • 透射电子显微镜
  • 气相色谱仪
  • 质谱仪
  • 电化学项目合作单位
  • 超声波探伤仪

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