检测样品：半导体集成电路CMOS电路

检测项目

输入正向闽值电压VIT+，输入负向阑值电压VIT-，带后电压△VT，输出高电平电压VOH，输出低电平电压VOL，输入高电平电流IIH，输入低电平电流IL，输出高电平电流IOH，输出低电平电流IOL，输出高阻态时高电平电流IOZH，输出高阻态时低电平电流IOZL

检测周期：7-15个工作日，试验可加急

检测标准

半导体集成电路CMOS电路测试方法的基本原理 SJ/T 10741-20005.4

半导体集成电路CMOS电路测试方法的基本原理 SJ/T 10741-2000 5.5

半导体集成电路CMOS电路测试方法的基本原理 SJ/T 10741-2000 5.6

半导体集成电路CMOS电路测试方法的基本原理 SJ/T 10741-2000 5.7

半导体集成电路CMOS电路测试方法的基本原理 SJ/T 10741-20005.8

半导体集成电路CMOS电路测试方法的基本原理 SJ/T 10741-20005.9

半导体集成电路CMOS电路测试方法的基本原理 SJ/T 10741-2000 5.10

半导体集成电路CMOS电路测试方法的基本原理 SJ/T 10741-2000 5.11

半导体集成电路CMOS电路测试方法的基本原理 SJ/T 10741-2000 5.12

半导体集成电路CMOS电路测试方法的基本原理 SJ/T 10741-2000 5.13

半导体集成电路CMOS电路测试方法的基本原理 SJ/T 10741-20005.14

检测流程

1、寄样

2、初检样品

3、报价

4、双方确定，签订保密协议，开始实验。

5、结束实验

6、邮寄检测报告

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