信息概要

硫化物电解质晶界失效测试（300℃）是针对硫化物电解质材料在高温环境下晶界稳定性及性能退化行为的专项检测服务。该测试通过模拟实际工作条件，评估材料在高温下的晶界失效机制，为材料研发、质量控制及寿命预测提供关键数据支持。检测的重要性在于确保硫化物电解质在电池、传感器等高温应用场景中的可靠性与安全性，避免因晶界失效导致的性能衰减或安全隐患。

检测项目

• 晶界电阻率
• 晶界离子电导率
• 晶界化学稳定性
• 晶界热膨胀系数
• 晶界机械强度
• 晶界元素扩散速率
• 晶界相变温度
• 晶界腐蚀速率
• 晶界孔隙率
• 晶界裂纹扩展速率
• 晶界界面能
• 晶界应力分布
• 晶界氧含量
• 晶界硫含量
• 晶界杂质浓度
• 晶界形貌特征
• 晶界结晶度
• 晶界电子导电性
• 晶界热导率
• 晶界失效临界温度

检测范围

• 锂硫化物电解质
• 钠硫化物电解质
• 钾硫化物电解质
• 银硫化物电解质
• 铜硫化物电解质
• 锌硫化物电解质
• 镉硫化物电解质
• 铅硫化物电解质
• 铋硫化物电解质
• 锑硫化物电解质
• 稀土硫化物电解质
• 复合硫化物电解质
• 掺杂硫化物电解质
• 纳米硫化物电解质
• 薄膜硫化物电解质
• 块体硫化物电解质
• 多晶硫化物电解质
• 单晶硫化物电解质
• 非晶硫化物电解质
• 层状硫化物电解质

检测方法

• X射线衍射（XRD）：分析晶界相组成与结晶结构
• 扫描电子显微镜（SEM）：观察晶界形貌与缺陷分布
• 透射电子显微镜（TEM）：表征晶界微观结构与界面特性
• 电化学阻抗谱（EIS）：测量晶界离子传输性能
• 热重分析（TGA）：评估晶界热稳定性
• 差示扫描量热法（DSC）：测定晶界相变行为
• 纳米压痕测试：量化晶界机械性能
• 二次离子质谱（SIMS）：检测晶界元素分布
• 原子力显微镜（AFM）：解析晶界表面力学特性
• 拉曼光谱（Raman）：识别晶界化学键状态
• X射线光电子能谱（XPS）：分析晶界表面化学组成
• 聚焦离子束（FIB）：制备晶界截面样品
• 能量色散X射线光谱（EDS）：测定晶界元素含量
• 超声检测：评估晶界内部缺陷
• 四点探针法：测试晶界电子导电性

检测仪器

• X射线衍射仪
• 场发射扫描电镜
• 高分辨透射电镜
• 电化学项目合作单位
• 热重分析仪
• 差示扫描量热仪
• 纳米压痕仪
• 二次离子质谱仪
• 原子力显微镜
• 拉曼光谱仪
• X射线光电子能谱仪
• 聚焦离子束系统
• 能谱仪
• 超声探伤仪
• 四点探针测试仪

了解中析

实验室仪器

合作客户